設(shè)備原理

　　X射線(xiàn)的波長(zhǎng)與晶體中原子平面之間的距離相似。該晶體可用作X射線(xiàn)的空間衍射光柵。當(dāng)一束X射線(xiàn)照射一個(gè)物體時(shí)，它被物體中的原子散射。每個(gè)原子產(chǎn)生散射波。這些波相互干擾，產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果引起輻射。線(xiàn)的強(qiáng)度在某些方向上增加，在其他方向上減少。通過(guò)對(duì)衍射結(jié)果的分析，可以得到晶體結(jié)構(gòu)。

　　用途及功能

　　一、 結(jié)晶度分析

　　通過(guò)求出總的積分面積和非晶漫散峰的面積我們可以得到材料材料的結(jié)晶度。

　　二、 晶粒大小分析

　　通過(guò)對(duì)XRD衍射峰的分析，利用謝樂(lè)公式，我們可以計(jì)算得到晶粒尺寸的大小。

　　三、 薄膜的物相鑒定-X射線(xiàn)掠入法

　　常規(guī)的X射線(xiàn)可以穿透幾個(gè)微米，但是當(dāng)薄膜樣品薄膜厚度只有幾十納米甚至幾納米時(shí)，常規(guī)的反射法測(cè)試基地的信號(hào)會(huì)對(duì)薄膜的信號(hào)產(chǎn)生干擾，X射線(xiàn)掠入射法正是把入射X射線(xiàn)以與樣品表面近于平行的方式入射，使X射線(xiàn)的穿透深度降低與樣品表面的作用面積增大，從而只測(cè)得薄膜的信號(hào)。

　　四、結(jié)晶狀態(tài)分析

　　對(duì)于結(jié)晶狀態(tài)的物質(zhì)和非晶態(tài)的物質(zhì)，在XRD的譜圖中，衍射峰有明顯的曲別，結(jié)晶程度越差，衍射峰呈漫散狀，因此可直接通過(guò)衍射峰的峰形來(lái)判斷物質(zhì)的結(jié)晶狀態(tài)。

　　五、 物相的定性分析

　　由于每種晶體結(jié)構(gòu)與其X射線(xiàn)衍射譜圖之間都有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系，且不會(huì)因?yàn)榕c其他物質(zhì)混合而使其特征譜圖發(fā)生變化，以此為依據(jù)X射線(xiàn)衍射就可用于物相的定性分析。在應(yīng)用中，當(dāng)對(duì)某種材料進(jìn)行物相分析時(shí)，我們通常物質(zhì)的X射線(xiàn)衍射圖與數(shù)據(jù)庫(kù)中的標(biāo)準(zhǔn)衍射花樣圖譜進(jìn)行比對(duì)，從而判斷物相的組成。

　　以上內(nèi)容就是我為大家總結(jié)的X射線(xiàn)衍射儀設(shè)備的介紹，相信大家經(jīng)過(guò)我的介紹，已經(jīng)解答了各位心中的疑惑或者問(wèn)題。