Vanta-手持金屬鍍層光譜分析儀
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巴斯德儀器（蘇州）有限公司
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融合鍍層市場需求，設(shè)計岀的一款性能高的Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀。適用于鍍層厚度測量及材料分析，具有無損，可靠，高生產(chǎn)力，高靈活性等優(yōu)點，可用來定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量，廣泛應(yīng)用于電路板、半導(dǎo)體、電鍍、五金產(chǎn)品、汽車零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等工業(yè)中的功能性鍍層電鍍槽液中的成分濃度分析。
客戶一般使用奧林巴斯Vanta™手持式X射線熒光（XRF）光譜儀*來確定合金，金屬和其他材料的化學(xué)成分，但您是否知道還可以使用手持式XRF光譜儀測量涂層鍍層的厚度？奧林巴斯Vanta手持式XRF光譜儀可以測量金屬，塑料，玻璃甚至木材上涂層鍍層的厚度。
| 1.1外型尺寸（寬 × 高 × 厚） | 8.3 × 28.9 × 24.2 cm |
|---|---|
| 2.重量 | 手持式光譜儀帶電池時1.70公斤；不帶電池時1.48公斤。 |
| 3.激勵源 | 4瓦特X射線管，其根據(jù)不同應(yīng)用而優(yōu)化的陽材料包括銠（Rh）、銀（Ag）和鎢（W）。 M系列Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀（Rh和W）和C系列（Ag）：8 ～ 50 kV C系列手持式光譜儀（Rh和W）：8 ～ 40 kV L系列Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀 |
| 4.主光束過濾 | 每個模式每條光束有8個位置的自動選擇過濾器。 |
| 5.探測器 | M系列Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀：大區(qū)域硅漂移探測器 C系列手持式光譜儀：硅漂移探測器 |
| 6.電源 | 可拆裝的14.4 V鋰離子電池或 18 V電源變壓器，100 ～ 240 VAC，50 ～ 60 Hz, 大70 W |
| 7.顯示 | 800 × 480 (WVGA)液晶電容式觸摸屏，可使用手指進行控制 |
| 8.操作環(huán)境 | 溫度：–10 °C ～ 50 °C（帶可選風(fēng)扇時，可連續(xù)工作）。 濕度：相對濕度為10 % ～ 90 %，無冷凝。 |
| 9.墜落測試 | 通過了美軍標準810-G的1.3米高墜落測試。 |
| 10.IP評級 | IP65*：防塵，而且可防止來自各個方向的水噴。 |
| 11.1壓力校正 | 內(nèi)置氣壓計，用于海拔和空氣密度的自動校正。 |
| 12.GPS | 嵌入式GPS/GLONASS接收器 |
| 13.操作系統(tǒng) | Linux |
| 14.數(shù)據(jù)存儲 | 4 GB嵌入存儲，帶有microSD卡插槽，可擴展存儲容量。 |
| 15.USB | 兩個USB 2.0 A型主端口，用于諸如Wi-Fi、藍牙和USB閃存驅(qū)動盤等配件。 一個USB 2.0袖珍B型端口，用于連接計算機。 |
| 16.Wi-Fi | Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀通過可選購USB適配器，支持802.11 b/g/n（2.4 GHz）。 |
| 17.藍牙 | Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀通過可選購USB適配器，支持藍牙和藍牙低能功能。 |
| 18.瞄準攝像頭 | 全VGA CMOS攝像頭Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀 |
| 19.全景攝像頭 | 5百萬像素CMOS攝像頭，帶自動聚焦透鏡。 |
1.屏蔽電子設(shè)備：導(dǎo)電涂層鍍層用于幫助屏蔽塑料設(shè)備；
2.建筑表面處理：涂層鍍層可保護鐵和鋼免受銹蝕，銅和黃銅不會失去光澤，鋅和鋁可以防污漬；
3.太陽能電池：許多太陽能電池都有薄合金或聚合物涂層鍍層；
4.工具鋼：鈦和碳化鎢有助于提高耐磨性和耐用性；
5.電氣布線：鋅和鎳涂層鍍層正在取代傳統(tǒng)的鎘涂層鍍層；
Vanta手持式XRF光譜儀可根據(jù)材料測量0.00至約60.00微米的涂層鍍層厚度。X射線從手持式XRF光譜儀發(fā)出，它們撞擊樣品，使其發(fā)出熒光。用于材料成份辨別（PMI）的Vanta-手持金屬鍍層光譜分析儀如
用于材料成份辨別（PMI）的Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀，可為用戶提供為精細的材料化學(xué)成份信息，從而可快速精確地辨別金屬的牌號，以確保用戶在關(guān)鍵的位置上安裝牌號正確的合金部件。接收返回的的X射線并使用數(shù)據(jù)計算涂層鍍層或涂層鍍層的厚度。
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